XRF樣品膜(X熒光光譜儀測試膜)
X射線熒光光譜分析儀(XRF)用測試膜樣品膜
XRF測試(X射線熒光測試)是一種廣泛應用于元素分析的 非破壞性測試技術。
它基于X射線與物質相互作用的原理,通過測量物質中熒光輻射的能量和 強度來確定樣品中的元素組成和含量。
常用基材有:聚脂薄膜、聚丙烯薄膜
常用厚度有:2.5~6μm
常用寬幅75mm,30m/卷,一般使用1英寸卷芯;其他規格可按需定制分切
性能特點:
1、高柔韌性和耐用性:方便實用和存儲,能承受多次使用,不易損壞;
2、抗化學腐蝕:不溶于有機溶劑,不會污染待測樣品;
3、雜質含量低:確保檢測結果準確可靠;
4、適用范圍廣:適用于各種類型的 X射線熒光光譜儀(XRF),如合金儀器、貴金屬分析儀、ROSH檢測儀、手持機、測厚儀等。
應用領域:
1、用于金屬和合金的化學成分分析;
2、用于快速分析礦石樣品中各種元素的含量,幫助礦產資源勘探和評估。同時,也用于礦物學研究和地質勘探中的礦物鑒定;
3、用于環境監測中,可快速確定樣品中存在的有害元素或污染物,提供環境質量評估和監測數據;
4、用于藥品和食品中有害元素的檢測,確保藥品和食品生產安全;
5、還可應用于建筑材料分析、考古學、煤炭和能源領域等。